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快速了解高加速應力篩選及壽命(mìng)試驗設備!

返回列表 來源:劍喬儀器 瀏覽: 108 發布日期:2021-04-28

一、高加速試驗的基本概述

高加速試驗是(shì)指在保(bǎo)證(zhèng)不(bú)改變產品失(shī)效(xiào)機理的前提下(xià),通過(guò)強化試驗條件,使(shǐ)受試產品加速失效,以便在較短時間內獲得必(bì)要信息,來(lái)評(píng)估產品在正常條件下的可靠性或壽命指標。通過加速試驗(yàn),可迅速(sù)查明產品的失效原因,快速評定產品的可靠性指標。

 

二、加速試驗的目的與特點

進行加速試驗的目的可概括如下:

 

  • (1)為了適應日益激烈(liè)的競爭環境;

  • (2)在盡可能短的時間內將產品(pǐn)投入市場;

  • (3)滿足用戶(hù)預期的需要。

 

高加速試驗是一種在給定(dìng)的試驗(yàn)時間(jiān)內獲得比在正常條件下(可能(néng)獲得(dé)的信息)更多的(de)信息的方法。它是通過采(cǎi)用(yòng)比設備在正常使用中所經受的環境更為嚴酷的試驗環境(jìng)來實現這一點的。由於使用更(gèng)高的應力,在進行(háng)加速試驗時必須(xū)注意不能引入在正常使用中不會發生的故障模式。在加速試驗中要單獨或者(zhě)綜(zōng)合(hé)使用加速因子,主(zhǔ)要包括:

 

更高頻率的功率循環;更高的振動水(shuǐ)平;高濕(shī)度;更嚴(yán)酷的溫(wēn)度循環;更(gèng)高的溫度。

 

三、加速試驗(yàn)分(fèn)類

高加速試驗主要分為兩類,每(měi)一類都有明確的目的:

(1)加速壽命試驗--估計(jì)壽命;

(2)加速應力試驗--確定(或證實)和糾正薄弱環節(jiē)。

這(zhè)兩類加(jiā)速試驗之間的區別盡管細微,但卻很重要,它們的區別主(zhǔ)要表現在下述幾個方麵(miàn):作為(wéi)試驗的基礎的基本假設、構建試驗時所用的模型、所(suǒ)用的試驗設(shè)備和場(chǎng)所(suǒ)、試驗(yàn)的實施方法、分析和解釋試驗數據的方法(fǎ)。

 

表1 對(duì)這兩類主要(yào)的加速試驗進(jìn)行了比較。

 

試驗

目(mù)的與方法

注解

加速壽(shòu)命試驗(ALT)

使用與可靠性(或(huò)者(zhě)壽命)有關(guān)的模型,通過比正常使(shǐ)用時所預期的更高的應力條件下的試驗來度量可靠性(或壽命),以確定壽命多長。

要求:了解預期的失效機理;了解關於加速該失效機理的大量信息,作為加速應力(lì)的函數

加(jiā)速應力試驗(AST)

施加加速環境應力使潛在的缺(quē)陷或者設計的薄弱環節發展為實(shí)際的失效(xiào),確(què)認(rèn)可能導致使用中失效(xiào)的(de)設計、分配或者製造過程(chéng)問題。

要求: 充分理解(至少要(yào)足夠了解)基本的失效機理。對(duì)產品壽命的影響問題作出估計。

 

四、加速試驗的產(chǎn)品層次

要明(míng)確進行加速試驗(yàn)的產品層次(cì)(級別(bié))是設備級還是零部件級,這一點很重要。某些加速方法(fǎ)隻適(shì)用(yòng)於零件級的試驗,而有的(de)方法隻能用於較高級別的總(zǒng)成(設備),隻有少數方法同時適用(yòng)於零件級和(hé)總成(設備)級(jí)。對零件級(jí)非常合適的基本假設和建模方法在(zài)對較高(gāo)級別的設備進行(háng)試驗時可能完全不成立,反(fǎn)之亦然。

 

表2 列(liè)出了(le)在(zài)兩個主(zhǔ)要的級別(設備級和零部件級)上進行試驗的信息(xī)。

 

級別

限製(局限)

注(zhù)解

設備級

通常非常有限,很少進行。要建立起設備在高應力下與正(zhèng)常使用條件下的失效率之間的關(guān)係的模型是極端困難的。而且,也很難確定不改變設備的失效機理的應力條件。

可以有效地用於設備的加速試(shì)驗的一個(gè)例子是增加工作周期,例如,某(mǒu)係統在正常(cháng)情況下僅在(zài)一(yī)個班次中運行,航空電子(zǐ)設備在一次飛行前(qián)和(hé)飛行中隻工作幾個小時,在這種情況下,在試(shì)驗中可以增加工作周期,受試係統一天可以連續工作三個(gè)班次,可使航空電子設備循環工作,在模擬飛行之(zhī)間隻留出足夠使設備的溫度穩定在非工作狀態的時間。這樣,盡管每個(gè)工作小時的(de)失效率沒有改變,但是每天發生的失效數增加了。這類加(jiā)速試(shì)驗通常在可靠(kào)性(xìng)鑒定試驗中采用。這實際上是加速試驗的一種形式(盡管通常不這樣認為)。

零部件級

部(零)件的失效模式(shì)比設備要少。因此,要確定能有效地加速失效(xiào)率而又不大(dà)改變失效機理的應力就容易得多。

通常用一(yī)個(gè)給定的應力可以對一個或(huò)多個支配性失效機理進行加速試驗,例如,電容器的介(jiè)質(zhì)擊穿是電壓的函數,腐蝕是濕(shī)度的函數。在這種情況下要找出失(shī)效率與使用應(yīng)力之間的函數關(guān)係的加速模型相當容易。因此,加速壽命試驗廣泛應用於部件,並且極力推薦大(dà)多數類型的零件使用這一方法。

 

五、先進的(de)加速試驗

過去,大多數加速試驗都(dōu)是使(shǐ)用單一應力(lì)和在定應力譜進行的。包括周期固(gù)定的周期性應力(如溫度在規定(dìng)的(de)上下(xià)限(xiàn)之間循環,溫度的上限和下限(xiàn)以及溫度的變化率是恒定的)。但是,在加速試驗中,應(yīng)力譜不必是恒定的,也可以使用多種應力的組合(hé)。常見(jiàn)的非恒定應力譜和組(zǔ)合應力包括:

步進應力試驗;漸進應力試驗; 高加速壽命試驗(HALT)(設備級);高(gāo)加速應力篩選(HASS)(設備級(jí));高加速溫度和(hé)濕度應力試驗(HAST)(零(líng)件(jiàn)級)。

 

高加速試驗係統性地使用(yòng)大大超過產品使用中預(yù)期水平的環(huán)境激勵,因此需要詳細理解(jiě)試驗(yàn)結果(guǒ)。高加(jiā)速試驗用於確認(rèn)相關故(gù)障,並用來確保產品對高於所要求的強度有足(zú)夠的裕度以便能經受正常的使用環境。高加速試驗的目的是(shì)大大減少(shǎo)暴露缺陷所需要的時間。該方法可用於研製試驗,也可用於篩選。

 

HALT(高加速壽命試驗)是一個研製工具,而HASS(高加速應力篩選)是一個篩選工具(jù)。它們常常互相聯合使用。這是兩種相對較新的方法,與傳統的加速試(shì)驗方法不同(tóng)。HAL與THASS的具(jù)體目標是改進產(chǎn)品設計,將製造偏差和環境效(xiào)應對產品性能和可靠性的影響減至最小。通常定量的壽命或可靠性預計與高加速試驗沒(méi)有聯係。

 

步進應力譜試驗。使用步進應力譜,試驗樣本首先按(àn)事先規定的時間以某個給定的應力水平(píng)試驗一段,然後在高(gāo)一點的應(yīng)力水平下再試驗一段時間(jiān)。不斷增加應力水平繼續上麵的過程,直到某個試驗樣本失(shī)效,或者試驗進行到最大應力水平時終止。這種方法能更快速地使產品失效以便分析。但是,用這種方法(fǎ)很難正確建立加速模型,因此很難定量地預計產品在正常使用條件下的(de)壽命。

 

每一步中(zhōng)應該增加的應力量值與許(xǔ)多變量有關。但是,允許(xǔ)在設計中進行這樣的試驗的一個普遍的法則是(shì):假設產(chǎn)品沒有(yǒu)缺陷,如果最終能以適當(dāng)的裕量超出預期的使用環境(jìng)中的應力,就(jiù)能保證總體中的(de)每一個體都能經受(shòu)住使用環境和(hé)篩(shāi)選環境。(從而提高產品的壽命或可(kě)靠性)漸進應力譜試驗。漸進應力(lì)譜或者"梯度試驗"是另一種常見(jiàn)的方法,試驗中應力水平隨時間(jiān)持續增加。其優點和缺點與步進試驗相同,但有(yǒu)另外一個困難,就(jiù)是很難精確(què)地控製應(yīng)力增加(jiā)的速率。

 

HALT(高加速(sù)壽命試驗)。HALT一詞(cí)是Gregg K. Hobbs 於1988年提出的。HALT有時指應力增益壽命試(shì)驗(STRIFE),是一種研製試驗,是步進應力試驗的(de)一種強化形式。它一(yī)般用來確認設(shè)計的薄弱環節和製造過程中存在的問題,以及用來增加設計強度的富裕量,而不用來進行產品壽命或可(kě)靠性的定量預計。

 

HASS(高加速應力篩選)試驗(yàn)。HASS是加速環境應力篩選(xuǎn)的一種形式。它代表了產品所經曆(lì)的最嚴酷的環境,但通常(cháng)持續很有限的一段時間。HASS是為達(dá)到"技術的(de)根(gēn)本極限"而設計(jì)的。此時應力的微(wēi)小增加(jiā)就會導致失效數的大量增加。這種根本極限的一個例子是塑料(liào)的軟化點。

 

HAST(高(gāo)加速溫度和濕度應力試驗)。隨著近來電子技術的(de)高速發展,幾年前剛剛出(chū)現的的(de)加(jiā)速試驗可能不(bú)再適應當今的技術了,尤其是那些專門針對微電子產品的加速試驗。例如,由(yóu)於塑(sù)料集成電路包的發展,現在用傳統的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花(huā)上千小時(shí)才能檢(jiǎn)測出新式集成電路的失效。在大(dà)多數情況下,試驗樣本(běn)在整(zhěng)個試驗中(zhōng)不發生任何失效。不發生失效的試驗是(shì)說明不了什麽問題的。而產品在使用(yòng)中必定會偶爾失效。因此,需要進一步改進加速試驗(yàn)。HSAT就是為代替老的溫(wēn)度/濕(shī)度試驗而開發的方(fāng)法。

 

六. 高加速壽命試驗常用模型(xíng)

加速模型按其提出時(shí)基於的(de)方法可以分為3類:物理加速(sù)模型(xíng)、經驗加(jiā)速模型和統計加速模型。

 

物理加速模型是基於對產品失效過程的物理化(huà)學解釋而提出的。一種典型的物理加速模型是阿倫尼斯(Arrhenius)模型,該模型描述了產品壽命和溫度應(yīng)力之間(jiān)的關係。另一種典型的物理加(jiā)速模型是艾林(Eyring)模型,它是(shì)基於量子力學理論提出的。該模型也描述了產品(pǐn)壽命和溫度應力(lì)之間(jiān)的關係。Glasstene等擴展了艾(ài)林模型,給出了描(miáo)述產品壽命(mìng)和溫度應力、電壓應力的關係。

 

經驗加速模型是基於工程師對產品性能長(zhǎng)期觀(guān)察(chá)的總結而提出的,典型的經驗加速模型如逆冪(mì)律(lǜ)模(mó)型、Coffin-Manson模型(xíng)等(děng)。逆冪律模型(xíng)描述了諸如(rú)電壓或壓力應力與產品壽命之間的關係(xì)。Coffin-Manson模型給出了溫度循環應(yīng)力與(yǔ)產品壽命之間的關係。

 

統計加速模型是基於(yú)統計分析方法給出(chū)的(de),常用於分析難以用物理化學方(fāng)法解釋的數據。統計加速模型又可以分為參數模型和非參(cān)數模型。參數模型中參數(shù)的個數及其特性都是確定的,而非(fēi)參(cān)數模型中參數的個(gè)數及其特性是(shì)靈活的,並不需要預先確定。參數模(mó)型需要預先確定產品的壽命分布形式,而非參數模型(xíng)是一種(zhǒng)無分布假設的模型(xíng),更加受(shòu)到研(yán)究人員的青睞。
 

七、高加速試驗中應當注(zhù)意的問題

 

加速試驗模型是對產品在正常應力水平下以(yǐ)及一個或多個加(jiā)速應力水平(píng)下的關鍵(jiàn)因素進行試驗而導出的。在使用加速環境時(shí)一定要(yào)極其注意,以便識別和正確(què)確認在(zài)正常使用中將發生的失效和一般不會發(fā)生的失效。因為加速環境一般都使用遠高於現場使用時所預期的應(yīng)力水平,加(jiā)速應力(lì)會導致在(zài)實際使(shǐ)用中不可(kě)能出現的錯誤的失效機理。例如,將受試產品的溫度升高到超過材料性能改變的溫度點或者休眠(mián)激活門限溫度時,就會導致在正常使用中不會發生的失效的發生。在(zài)這種情況下,解決這種失效隻會增加產品的費用,可靠性卻不會有絲毫的(de)提高。理解真正的失效機(jī)理來消除失效的根本原因才(cái)是極為重(chóng)要的。

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